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Info Generali:

  • Dipartimento: Ingegneria
  • Tipologia: Corso Di Laurea Magistrale Dm.270/04
  • Corso di Laurea: Ingegneria Elettronica
  • Settore Ministeriale: ING-INF/01
  • Codice di verbalizzazione: 8039841
  • Metodi di insegnamento: Frontale E Altro
  • Metodi di valutazione: Scritto E Orale
  • Prerequisiti: Progettazione di sistemi digitali
  • Obiettivi: Il corso si compone di tre parti, la prima parte ha lo scopo di esporre le varie tecniche di collaudo dei componenti e sistemi VLSI, la seconda parte introduce tecniche di progettazione finalizzate alla tolleranza ai guasti, la terza parte introduce le problematiche di affidabilita e dependability dei sistemi embedded in particolare nelle applicazioni spaziali. Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Principali meccanismi di guasto Copertura di guasti ed efficienza del collaudo Modelli di guasto Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di guasti di tipo stuck-at Equivalenza di guasti e ?Fault Collapsing? Principali meccanismi di guasto Dominanza di guasti e ?Fault Collapsing? Guasti di tipo stuck-open: possibile collaudo Guasti di tipo stuck-on: possibile collaudo Guasti di tipo bridging resistivo, delay, crosstalk e transitori: possibile collaudo Automatic Test Pattern Generation (ATPG) Definizione Algebre per ATPG Algoritmi esaustivi Algoritmi random ?Path Sensitization? Test delle memorie e algoritmi di March Test Tecniche di progettazione orientata al collaudo (DFT) Introduzione Metodi ad-hoc e metodi strutturali Full-scan Boundary scan Built-in-self-test (BIST) Affidabilita e tolleranza ai guasti Introduzione: applicazioni, motivazioni Metodi per la valutazione della affidabilita di un sistema Reliability block diagram Fault Tree Analysis Markov chains Tecniche di progettazione Fault Tolerant Ridondanza Modulare On-line testing e recovery: duplicazione e confronto; progettazione self-checking Progettazione self-checking: proprieta circuiti self-checking; ipotesi di guasto; progetto di blocchi funzionali self-checking; progetto di checker;. Codici a rilevazione e correzione di errore Codici a rivelazione d'errore (codici di Berger e relativi checker; codici di parita e relativi checker; codice two-rail e relativi checker; codice m-out- of-n e relativi checker) Recovery: rollback and retry; tecniche riconfigurazione Codici a correzione d'errore: codici lineari di parita; circuiti di codifica e decodifica Introduzione ai sistemi embedded, definizione di sistema embedded, storia, mercato, funzioni svolte. Definizione di sistema dependable e standard applicabili. Hardware e software dei sistemi embedded nello spazio. Effetti dell??ambiente spaziale sui componenti elettronici digitali e modelli di guasto applicabili, obiettivi di missione di un sistema embedded per lo spazio. Tecniche di tolleranza ai guasti applicate ai sistemi embedded. Caratterizzazione dei componenti ad uso spaziale tramite test di irraggiamento. Test per Total Dose, Test per Single Event Effects.
  • Ricevimento: Su appuntamento: scrivere una email al docente.

Didattica Didattica:

  • A.A.: 2018/2019
  • Canale: UNICO
  • Crediti (CFU): 9
  • Obbligo di Frequenza: No